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    反射率測試儀

    光纖光譜儀,積分球,均勻光源,太赫茲系統應用專家
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    BS-INT-2000反射率測試儀

     

    BOSON的BS-INT-2000型反射率測試儀,采用集成式的微型光譜儀,并集成積分球光源,可對平面樣品(如硅晶片,鍍膜表面,油漆,紙張,布料等)進行反射率測試。

    BS-INT-2000型反射率測試儀內部采用了集成式的微型光譜儀,沒有固定式光學元件,穩固可靠,光學精度不受移動影響,體積小巧,可以在各種環境中使用。

    測試儀采用了高穩定性的鹵鎢燈光源,穩定的電源輸出保證了光譜的穩定性,有效的提高了測試精度。使用積分球測量方式,提供均勻的照射光斑,進一步提高了測試的精確性,可以適用于多種類型的樣品。反射率測試儀整體采用8度角的設計,符合CIE的測試標準。

    特點:

    1. 測試波長范圍350-1000nm。
    2. 采用積分球鹵鎢燈光源,可以得到更加均勻的輸出光。
    3. 反射率范圍0-99%。
    4. 系統為集成化模塊,使用中只需將設備連接電腦即可使用。
    5. 操作簡便
    6. 易于攜帶
    7. 儀器終生保修。


    技術參數

    探測器范圍

    200-1100 nm

    可用范圍:

    350-1000 nm

    像素:

    3648 pixels

    像素尺寸:

    8 μm x 200 μm

    信噪比:

    250:1

    積分時間:

    10ms-10s

    像素分辨率:

    ~ 0.18 nm

    光學分辨率:

    ~ 1.5 nm (半峰寬)

    積分球直徑:

    3英寸

    樣品孔直徑:

    12.2 mm

    積分球涂層反射率:

    >99%

    光源光譜范圍:

    350-2500nm

    光源壽命:

    5000小時

    可測量參數:

    波長反射率,總反射率,反射顏色xy, XYZ, Lab 等

    計算機操作系統:

    USB 接口:Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux

    計算機接口

    USB 2.0 @ 480 Mbps (兼容USB1.1)

    外形尺寸:

    11cm(長) × 7(寬) × 19cm(高)

     


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